TSD100W-55冷熱沖擊試驗箱（兩箱式）產(chǎn)品詳情 Details

產(chǎn)品簡介

兩廂溫度沖擊試驗箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境，用于確定裝備在經(jīng)受周圍大氣溫度的急劇變化時，是否產(chǎn)生物理損壞或性能下降。是航空、汽車、家電、科研等領域必備的測試設備，考核和確定檢測儀器、機械、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等在進行高低溫沖擊試驗后的參數(shù)及性能。

兩廂法高低溫沖擊試驗箱，配備二個工作室，分別為高溫區(qū)和低溫區(qū)，通過吊籃將測試件移動至相應的工作室，進行高低溫沖擊試驗。

TSD100W-55冷熱沖擊試驗箱滿足試驗標準

GB/T2423.1﹣2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2﹣2001 試驗B：高溫試驗方法

GJB150.3A-2009 高溫試驗

GJB150.4A-2009 低溫試驗

GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗

程序容量

數(shù)量：最大120組

步數(shù)：最大100步/組

總循環(huán)數(shù)：最大999個

程序可鏈接(鏈接程序序號可選擇)

通訊功能

RJ-45接口，具有本地和遠程通訊功能

安裝好本公司提供的軟件后，在控制軟件中可以對設備進行遠程監(jiān)控，可以對設備進行編程、開機和停機等操作，通過該軟件可以記錄試驗過程中的數(shù)據(jù)和曲線，并可以根據(jù)需要打印該數(shù)據(jù)和曲線。

曲線記錄功能

曲線實時存儲，可顯示當前曲線，歷史曲線可查詢顯示，具備曲線時標功能，用U盤下載歷史數(shù)據(jù)，可在專用軟件還原曲線并且生產(chǎn)Excel報表。

外接數(shù)據(jù)存儲功能

USB接口，配優(yōu)盤(容量不小于4G，不保修)一個，PC機專用軟件光盤一張。

通過PC機專用軟件編制試驗程序并導入控制器中;也可將控制器內(nèi)的程序?qū)隤C機進行分析和管理。

可將存儲在控制器內(nèi)記錄的試驗曲線數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存到優(yōu)盤上。通過PC機專用軟件直接顯示和打印試驗數(shù)據(jù)/曲線;或?qū)⒂涗洈?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可由Microsoft Office讀取的Access數(shù)據(jù)文件。

附屬功能

故障報警及原因

斷電保護功能

日歷定時功能(自動啟動及自動停止運行)

自診斷功能

TSD100W-55冷熱沖擊試驗箱規(guī)格參數(shù)

TSD100W-55冷熱沖擊試驗箱標準配置

電纜孔：引線孔Φ50mm，數(shù)量1個，配2個膠塞，引線孔規(guī)格數(shù)量可在設計前由雙方協(xié)商確定。

樣品架：2層，承載能力(均布)30kg/層

試樣擱架：4個