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按鍵小型氙燈老化試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試按鍵、按鈕等電子元器件耐久性的設(shè)備。該試驗(yàn)箱通過(guò)使用氙氣燈管模擬日光和紫外線的輻射，加速元器件老化過(guò)程，從而測(cè)試其可靠性和壽命。

測(cè)試過(guò)程

測(cè)試操作過(guò)程：

準(zhǔn)備：將待測(cè)元器件放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，并根據(jù)需要調(diào)整溫度、濕度等參數(shù)。

啟動(dòng)：打開氙氣燈管，開始模擬輻射。同時(shí)啟動(dòng)計(jì)時(shí)器，記錄老化時(shí)間。

定時(shí)更換：根據(jù)需要，每隔一段時(shí)間更換元器件位置，保證所有位置都受到相同的輻射強(qiáng)度，從而確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

結(jié)束：根據(jù)測(cè)試要求，停止輻射并記錄測(cè)試時(shí)間。

符合標(biāo)準(zhǔn)

該試驗(yàn)箱符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.24-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Fc》；

GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Fd》；

GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Fe》；

GB/T16422.3-1997《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：試驗(yàn)Cb 靜電放電》；

GB/T16422.2-1999《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：試驗(yàn)Ca 高溫、高濕和循環(huán)溫濕度試驗(yàn)》。

以上標(biāo)準(zhǔn)均是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，可用于測(cè)試電子元器件在各種環(huán)境條件下的性能和可靠性。